Comparación del tipo de falla adhesiva en dos diseños de base de brackets con estereomicroscopía y microscopía electrónica de barrido / Bianca Andreína Borrego, Gabriela Patricia Nogales, Ana Cecilia Pérez
Idioma: Español Editor: Bogotá 2014Descripción: 50 p., [Anexo 1] ., ft., col., 28 cmTema(s): Ortodoncia | Falla adhesiva | Bases de brackets | Estereomicroscopía | Microscopía electrónica de barrido | OdontologíaClasificación CDD: T617.643 C56t206
Contenidos:
Resumen: Comparar el tipo de falla adhesiva en dos diseños de bases de brackets mediante estereomicroscopía y microscopía electrónica de barrido (MEB).
Resumen, Introducción, Método, Resultados, Discusión, Conclusiones, Prospectiva
| Tipo de ítem | Ubicación actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
Tesis
|
Bibioteca UniCIEO | Tesis | T617.643 C56t206 (Navegar estantería) | Ej. 1 | Disponible | 002205 |
Tesis para obtener Titulo de Especialista en Ortodoncia
María Constanza Mouthon Barrero es docente director (coinvestigador)
La Fundación Centro de Investigación y Estudios Odontológicos CIEO, a partir 2010 pasa a ser Fundación Universitaria CIEO-UniCIEO
Incluye Bibliografía
Resumen, Introducción, Método, Resultados, Discusión, Conclusiones, Prospectiva
Comparar el tipo de falla adhesiva en dos diseños de bases de brackets mediante estereomicroscopía y microscopía electrónica de barrido (MEB).
No hay comentarios en este titulo.